yieldWerx

yieldWerx ist seit über 15 Jahren in der Halbleiterindustrie tätig und liefert Daten- und Ertragsanalysen für Kunden, die von Fortune-500-Halbleiterriesen bis hin zu innovativen Start-ups reichen. Das Unternehmen hat seinen Hauptsitz in Plano, Texas, und verfügt über ein vielfältiges globales Team von Branchenexperten in Nordamerika, Europa und im asiatisch-pazifischen Raum. Unser Führungsteam verfügt über jahrzehntelange Erfahrung bei einigen der weltweit renommiertesten Halbleiterunternehmen, darunter Texas Instruments, Intel, Qualcomm, SMIC und Amkor, um nur einige zu nennen. 
Wir engagieren uns für das europäische Halbleiter-Ökosystem und suchen aktiv nach Partnerschaften, um die regionale Expansion zu unterstützen, bei Initiativen zur Verbesserung der Fertigungsqualität zusammenzuarbeiten und einen Beitrag zu Industrie 4.0-Programmen zu leisten. Unsere Lösungen eignen sich besonders gut für stark regulierte Märkte wie Automobil, Luft- und Raumfahrt, Medizintechnik, Photonik und Verteidigungsanwendungen, in denen eine fehlerfreie Fertigung und vollständige Rückverfolgbarkeit entscheidende Anforderungen sind.

Slogan

The Future of Yield Analysis and Beyond...

Profil

yieldWerx bietet revolutionäre, schlüsselfertige Lösungen für das Ertragsmanagement, die Milliarden von Datenpunkten in umsetzbare Erkenntnisse für die gesamte Halbleiter-Lieferkette umwandeln. Unsere Industrie-4.0-fähige Plattform liefert End-to-End-Datenanalysen mit KI/ML-gestützter Automatisierung und ermöglicht es Fabless-, IDM-, OSAT-, Foundry- und Ökosystempartnern, den Ertrag zu maximieren, die Markteinführungszeit zu verkürzen und die Produktzuverlässigkeit durch umfassende Qualitätskontrolle und fortschrittliche Ausreißererkennung zu verbessern.

Technologie / Forschung

yieldWerx bietet eine Plattform für das Ertragsmanagement in der Halbleiterindustrie, die komplexe Produktionsdaten in umsetzbare Erkenntnisse umwandelt. Die Plattform erfasst und integriert Daten aus allen Phasen der Fertigung, von der Waferherstellung bis zum Endtest, und bietet Ingenieuren und Betriebsteams einen einheitlichen Überblick über Produktqualität und -leistung. Durch die Konsolidierung von Daten aus der Wafer-Sortierung, dem Endtest und der Montage in einem einzigen Repository ermöglicht yieldWerx eine KI-gesteuerte Mustererkennung, adaptive Grenzwertfestlegung und Korrelation von Ursachen über Produktlinien und Fertigungsstandorte hinweg und hilft Teams dabei, Ertragsprobleme schneller zu identifizieren und zu lösen.

Wichtigste Vorteile:

• Schlüsselfertige, skalierbare Lösung – Einrichtung innerhalb weniger Wochen oder sogar Tage mit cloudbasierten, lokalen oder hybriden Lösungen
• Ganzheitliche Dateneinblicke – umfassende, bereinigte Daten über die gesamte Lieferkette hinweg
• Kosteneffizienz – direkt konkurrenzfähig mit anderen Lösungsanbietern zu einem wettbewerbsfähigen Preis
• Wettbewerbsvorteil in der Branche – basierend auf jahrzehntelanger Erfahrung im Halbleiterbereich
• Hohe Anpassungsfähigkeit – modulare und anpassbare Lösungen
• Leistungsstarke Automatisierung und KI – Vollautomatisierung mit KI-gestützter Analyse

Produkte / Dienstleistungen

yieldWerx bietet eine umfassende und konfigurierbare Produktpalette, die Produkt- und Testingenieuren die erforderlichen Tools und Technologien zur Verfügung stellt, um neue ICs und Testprogramme zu charakterisieren, die Produktion bei OSATs schnell hochzufahren und Ertragsabweichungen zu identifizieren und zu diagnostizieren. Zu diesen Modulen gehört das AI/ML-gestützte Advanced PAT++-Modul von yieldWerx (SPAT, DPAT, Multivariate PAT, GDBN usw.). Dieses Modul zur Qualitätskontrolle und Risikominimierung soll Halbleiterherstellern dabei helfen, Ertragsverluste zu minimieren, Prozessverschiebungen schnell zu erkennen und eine bessere Kontrolle über ihre Chip-Fertigungsprozesse zu erlangen, um Null-Fehler-Zertifizierungen zu erreichen.
Zu den weiteren Modulen gehört das automatisierte Lot-Disposition-System, das KI/ML-gestützte Lebenszyklus-Datenanalysen nutzt, um Fertigungsentscheidungen zu optimieren. Die Plattform bietet Echtzeit-Maschinensteuerung für die Anlagenoptimierung und OEE, multidimensionale Wafer-Merge-Funktionen und die Erstellung von Montageplänen für die Tinten- und tintenlose Wafer- und Retikel-Kartierung. Unsere Module für das Fehlermanagement und die Parametergenealogie ermöglichen eine umfassende Nachverfolgung über die gesamte Produktionskette hinweg, ergänzt durch Testprogramm- und Rezepturmanagement mit Validierungs- und Freigabekontrollen.
Die Plattform verarbeitet auch komplexe Produkte wie CPO, Chiplets, Multi-Projekt-Wafer, Multi-Chip-Dies und Nicht-Silizium-Substrate wie SiC, GaAs, GaN und SOI und bietet eine lückenlose Rückverfolgbarkeit der Lieferkette vom Werk bis zum Systemtest. Die Integrationsfähigkeit mit branchenüblichen Tools wie JMP gewährleistet eine nahtlose Einbindung in den Arbeitsablauf.
Dank flexibler Bereitstellungsoptionen, darunter cloudbasierte, lokale oder hybride Lösungen, und einer schnellen Implementierung kann yieldWerx innerhalb von Wochen, wenn nicht sogar Tagen, bereitgestellt werden. Diese skalierbare Architektur unterstützt Unternehmen und Produkte von der NPI über die Serienfertigung bis hin zur fortgeschrittenen Produktion.