Tests von Embedded Systemen

14. Dezember 2017, München

Programm

16:00
Begrüßung und thematische Einführung

Jürgen Frickinger, Bayern innovativ GmbH, Nürnberg

16:10
Kurze Vorstellungsrunde der Teilnehmer
16:20
Hardware in the Loop – Wichtige Hardware und Plattformen für Embedded Tests

Bernhard Rennhofer
CEO, SET GmbH - Smart Embedded Technologies, Wangen

16:40
HIL und SIL für Embedded Systeme – Software, Methoden, Model Besed Testing, Generierung von Tests

Thomas Schütz,
CEO, PROTOS Software GmbH, München

17:00
Kaffeepause
17:15
Diskussionsrunde mit Workshop-Charakter

Moderation: Thomas Schütz, CEO, PROTOS Software GmbH, München

 
Diskutiert werden unterschiedliche Fragestellungen zu Anforderungen, Methoden und Tools für den Test von Embedded Systemen, darunter:
  • Grundlagen und Ziele des Tests
  • Embedded Systeme – Warum werden sie anders getestet?
  • Testbarkeit von Anforderungen
  • Architekturen und Testbarkeit
  • Teststufen: Komponenten-, Integrations-, System- und Abnahmetests
  • Statische Testmethoden
  • Dynamische Testmethoden
  • In the Loop Tests (MIL | SIL | PIL | HIL)
  • Safety und Standards
  • Testprozesse – klassisch und agil
  • Continuous Integration
  • Testwerkzeuge
19:00
Get-together und kleiner Imbiss
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